Patentüberwachung - Monitoring

Patentüberwachung - Festlegung der Suchkriterien

Entdecken Sie frühzeitig Fremdtechnologie, die Ihre Schutzrechte negativ beeinflusst. Entwickeln Sie nur dort, wo Ihre Wettbewerber nicht bereits Lösungen gefunden haben und sich diese auch haben schützen lassen. Hosten Sie bei HAACK ein effizientes Monitoring und Überwachungssystem, welches Ihnen hierbei hilft und Ihnen die Arbeit erleichert. Bei der Patentüberwachung (Monitoring) wird in Zusammenarbeit mit dem Nutzer ein Suchprofil aus Kriterien erstellt, auf dessen Grundlage die Neuerscheinungen der Ämter zweiwöchentlich auf Übereinstimmung überprüft werden und die Ergebnisse (Treffer) zugesendet werden.


In der Überwachung sind standardmäßig folgende Patentämter enthalten:
DE · EP · WO · US · CA · GB · CH · AT · FR · AU
Im Fernost Segment können optional auch die Patentämter der Staaten wie z.B.  JP (Japan) · CN (China) · TW (Taiwan) · KR (Korea)  hinzu genommen werden

Anmeldung zur Patentinformation 


Verwaltung und Zugriff der Ergebnisse im Online-Kundenportal


Die Ergebnisse der Überwachung zeigen die bibliographischen Angaben der Erfindung inkl. Zeichnung und Abstrakt. In einer erweiterten Ansicht gelangt man zu weiteren Details, u.a. durch Verlinkungen zu diversen verfügbaren Informationen anderer Plattformen und Ämter. Somit gibt es immer Einsicht in:

  • PDF Vollschrift
  • Rechtsstandauskunft
  • Familienauskunft
  • parallele Darstellung der Zeichnungen
  • MFB-Datenblatt

    • Die Ergebnisse werden auf unserem Server gesammelt und sind auch später noch über die Online Patentverwaltung PatMan® Web suchbar und einsehbar, siehe -> PatMan® Web 




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